XRAY测厚仪(XDL)

X-RAY测厚仪是一部简单、容易操作，且经济实惠的测量仪器。大测量室可以测量大体积，不规则形状的工件,测量法能对测量距离修正，可以自动测量复杂的形状，大的线路板也可轻易的放在测量头及测量台之间的槽进行测量。X-RAY测厚仪配备微焦距XRAY管，四个电动移动准值器，尺寸为圆形直径0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，还有三个基本滤片选用，使光谱圈更合适分析，基本操作软件WINFTM V6 LIGHT，可以同时间测量多至4层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是**多测量两个正离子的药水浓度测量分析。

X-RAY测厚仪样品台选择： 
采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 
一：手动样品台 
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 

二：自动样品台 
1  程控样品台：XYZ轴自动控制。 
2  超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。 

X-RAY测厚仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。