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半导体电镀层膜厚仪(FXL-90)

所在区域:广东 深圳市 深圳市区
更新时间:2012-07-26
品牌:德国菲希尔
产品价格:面议
半导体电镀层膜厚仪
半导体电镀层膜厚仪针对高要求用户设计的,能够测量极精密的样品,如:微形部件或线路板上极微细的表面结构,它的新颖专利X-射线光学镜片,创新的X-射线光学原理,使这部仪器能产生非常小,但高辐射强度的测量点,所以,测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层,FISCHERSCOPE X-RAY XDVM测厚仪,还能测量出范围从元素氯(Z=13)至铀(Z =92)。半导体电镀层膜厚仪主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描(指定面积),如:硬盘镀层、细微的线。有极高精度,可编程的XYZ测量台及大移动范围,测量室为长方形内槽设计,容许放入大面积的物件进行测量。标准配备有WindowsXP中文操作界面及WIN FTM V6系统软件。采用**新数学FP法,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成一起的损坏。
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