XDAL膜厚仪（FISCHER）(XDAL-P)

XDAL膜厚仪（FISCHER）有着较高的精确度，测量台是可编程XYZ的，移动范围为255*235MM，并且较大的测量室，可以放入大面积，要求精密度高的产品。主要用于材料分析和镀层厚度测量。XDAL膜厚仪（FISCHER）加强的WINFTM V6软件，从上而下的照射，使样品显示更清楚，并具备高能量解像度半导体接收器，四个准值器为：圆形：0.1,0.3,0.6MM长方形为0.15*0.5MM.自动视觉对焦,更适合测试黄金、珠宝、实验室分析、薄膜、太阳能电池、液体分析、粉末等。
可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。