FXL膜厚测试仪采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。FXL膜厚测试仪除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。对于测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单，只需要将药水放进别外选购的测量杯便可以进行测量，这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何，有效率地控制电镀生产，测贵金属成分可达到重复性约0.1%。是一款价优，并功能强大的仪器。FXL膜厚测试仪其非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,**饰,端子等行业的**选.可测量各类金属层、合金层厚度.
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