高精密镀度测厚仪(FXL240)

高精密镀度测厚仪是针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖专利X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层。可以满足客户更精密的测试要求，得到一个更精确的测理结果，高精密电镀测厚仪，配备有半导体接受器，更具灵敏度，能够快速有效的测量，是您**优的选择。