膜厚测厚仪(XUL)

FISCHER XUL系列膜厚测厚仪，是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，采用能量散射X-射线萤光测厚原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单。具备手动的测量台，可移动的范围是50MM*50MM，不需要打开测量门便可以移动不同测量，方便操作。测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行测量，并且由下向上的照射，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量，这不单可以令测量更快速，还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。该系列产品是根据ASTMB568/ISO3497的规格进行设计的，WINFTM的控制软件，已成为多功能及准确度高的样板极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等。