膜厚测试仪ba100(BA100)

美国博曼膜厚测试仪可针对卤素Br\Cl做快速分析产品规格测定元素 原子编号 13 (Al) ~ 92 (U) 样品形态 固体，粉末，液体 X光管 小型空冷式X射线管球(Rh靶)膜厚测试仪 管电压： 15kV, 50kV 管电流： 1mA 检测器 Si半导体检测器(无需液态氮) 准直器 4个准直器（自动司服转化功能）样品观察 彩色CCD摄像头滤波器 4种模式自动切换样品室 370(W)*320(D)*155(H)mm X-ray  笔记计算机或桌上型计算机，打印机(选购) 喷墨打印机定性分析功能 能谱测定自动辨别，图谱比对定量分析功能 块体FP法，标准曲线法 KLM标示表示，差异表示统计处理功能 多种文档报告制作 设置尺寸高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24)(不含打印机) 重量 38kg 使用电源 100 ~ 240伏,  

膜厚测试仪可测量：

单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

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