SCE大米外观品质检测仪(SC-E)

SC-E型大米外观品质检测分析仪

1用途：用于各种类大米（精米、糙米、糯米等）各项外观品质指标的精准自动检测，可进行多参数、批量化的自动分析。

2系统组成：双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑（电脑另配）。

3 主要性能指标：

★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像（中晶

ScanMaker i800 Plus）。透扫幅面30

cm×20 cm，**小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。

★可自动一次性测量分析30g以上大米样品的：垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度（**发明专利号ZL 2013 1 0172280.X）、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率，以及糙米胚芽率。

自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.05mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02；整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%）。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016、粮食行业标准 大米LS/T 3247—2017等标准相对应，检测各项指标的质量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图，以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。

★具有自动学习与识别特性，可自动分割粘连的大米、种粒，可做自动分类分析。

★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm，自动数粒精度≥99%，交互修正后准确率达100%。

4．环境条件：

温度10~30℃，相对湿度≤85%，防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上，周围无强烈的机械振动和电磁干扰；电源要求220V±10%，50Hz。

注：本技术标书中打★款项必须响应，否则为重大偏离

选配电脑推荐：一体机电脑（双核CPU / 4.0G内存/1G显存/ 500G硬盘/DVD刻录/ 19.5”彩显/无线网卡，4个以上USB2.0口，Windows 7完整专业版或完整旗舰版）