能量分散型荧光X射线元素分析仪JSX3400R(JSX-3400RⅡ)

能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ

JSX-3400RⅡ是日本电子株式会社推出的08年新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指针，不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析，还对卤素Cl高精度测试分析。 能同时达到无卤测试及ROHS测试。

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主要特点

1.

实现高灵敏度*微少成分的分析*短时间测定！

Ⅰ

采用新光学系统与高分辨率 Si(Li) 型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。(业界

**好的保证分辩率).

Ⅱ

**新开发的针对RoHS用X射线滤波器。减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波

峰背景的低减与避免共存元素影响。

2.

内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！

Ⅰ

通过设备的校正功能，配置各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单。

Ⅱ

可针对Cl的检量线，检测极限可达9个PPM，达到无卤测试要求。

3.

简单方便的操作系统

2

Ⅰ

按一键就完成测定!自动保存结果。一键生成报告

4.

材料元素 Monitoring 系统。

Ⅰ

实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。在业界**多补正功能。满足样

品基材多样性需求。

5.

采用300mmφ 大型样品室，自动样品样品仓门。

3

Ⅰ

大样品可以直接放入様品室。自动样品仓门更好密封样品室。

其他功能

1.

分析結果報告軟體：測試自動保存結果，並可一鍵生成報告。（標配）

→

2.

鍍錫分析軟體（可選）

Ⅰ

無鉛焊錫和Sn焊料中的Pb分析非常困難，使用該軟體可以簡單進行非破壞分析，並

進行鍍層厚度修正分析準確。

3.

鍍鎳分析軟體（可選）

23

Ⅰ

非破壞測量無電解Ni鍍層中的Pb,Cd進行鍍層厚度修正分析準確。成功地去除了背底

的影響。

Ⅰ

技術參數

元素範圍

Na11 - U92

解析度

保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度**佳之桌上型XRF)

X射線管

5-50kV, 1mA, 50W

靶材

Rh靶

濾波機構

4種自動交換(包括Open)

准直器

1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ

探測器

液氮製冷型Si(Li)半導體探測器

液氮

3升（消耗量1升/日以下）僅使用

樣品室尺寸

300 mmΦ x 150mmH

樣品室環境

大氣， 真空（可選）

作業系統

Windows XP，19寸彩色顯示器

主要附件

能量校正樣品/強度校正樣品/檢查樣品

設備電源

單相AC100V±10%，單相AC220V±10%