膜厚分析仪(XDL)

 FISCHERSCOPE  XDL系列膜厚分析仪是十分简易操作的桌面式测量仪器，具备高解像彩色摄影机配合强大的放大倍数功能，使样品的对位十分容易，在测量中也可以监视测量的位置，如型号配备了可

编测量的仪器，更有雷射对位装置来更快速及准确对样品的位置测量，符合德国的出口规定，DEUTSCHE RONTGENVERORDNUNG-ROV，开槽式的测量室设计，可使大块及平坦的样品，比测量室还大的样品，

如线路板，都可以测量，能分析多至24种元素。在对焦方面可作自动对焦或手动对焦，对位的十字线是可以调校其刻度及测量点大小的，而且可以调节照明用的发光二极管的光亮度，达到更精确的测量

结果。FISCHERSCOPE  XDL系列膜厚仪据客户的不同需求，提供不同的型号可供选择，不同之处在于测量台的操控，是固定的或可调节的：
    XDL-210固定的XY轴及固定的Z轴
    XDL-220固定的XY轴及电动的Z轴
    XDL-230手动操控的XY轴及电动的Z轴，无需打开测试盖便可操作
    XDL－240电动的XY轴可以在测量门打开时变速移动XY桌出来给操作员放置样品及开关测量门时移动XY桌变速返回到测理位置。