X射线荧光金属镀层分析仪(XRF-2000)

韩国Micro Pioneer X射线镀层测厚仪XRF-2000
韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,**饰,端子等行业的**选.可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：原子序 22-25，0.1-0.8μm  26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm  72-82，0.05-5μm 

X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)

准直器：固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
 


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