供应 元素分析及荧光镀层测厚仪

Xstrata980 X荧光镀层测厚仪 
 
• 快速、非破坏性EDXRF分析技术 
• Ti22-U92多元素自动鉴别 
• 高可靠、长寿命100瓦微焦点X射线管保证高分析精度和更短的分析时间 
• 便捷的仪器校正，多种硬件选项满足不同形状样品和不同尺寸样品的要求 
• 一体化工作站设计实现**佳的人机工程学，直观视窗软件实现便捷的操作 
• 强大的数据统计、处理功能 
• 测量范围宽 
• NIST认证的标准片 
• 全球服务及支持  

X-Strata980X射线荧光镀层测厚仪可应用于电镀、涂镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息的同时测定分析

 

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业 

 

 
主要规格 规格描述
X射线激发和检测 牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
高分辨封气(Xe)正比计数器可获取**高的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现**佳的检出效果
数字脉冲处理 4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取**高的信号采集(每秒计数量)，从而保证**好的测量统计结果
手动或自动透镜控制 手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的**佳分析聚焦距离
自由距离测定 简化系统设置和维护
在聚焦距离范围内仅需要一个校正
对不规则样品更灵活的测量
在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可准确测量样品表面的任何一点
通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、准确的确定聚焦距离
 
附带自动透镜功能的自动激光聚焦 独特的、自动样品摆放系统
激光扫描单键启动
消除样品碰击Z轴的机会
改善DIM的聚焦过程
标准激光聚焦 标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
Z轴聚焦扫描单键启动
改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
微小准直器 仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以**优化测量，并提高测量效率
备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用
多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
大样品室设计 方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
标准配置自动化Z轴：**大高度230mm
集成化计算机 工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
减少整机占用空间
USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
其他硬件特点 CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，保证长期的仪器稳定性
光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器长期的稳定性
坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
一体化工作站设计实现**佳的人机工程学