金属镀层厚度测量仪(XDLM)

金属镀层厚度测量仪是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,保证样品的完整性,减少不必要的浪费,并且先进的FP数字计算法,对测量数据进行精确的计算,确保测量数据的准确性.

金属镀层厚度测量仪的配制:X射线管(钨管)、微焦距，可加NI和AL滤片，高读数氙气体比例接收器，另铜层膜厚分析仪，配有四个准值器和可操控的手动测量台，使用方便、简单。

金属镀层厚度测量仪的性能比：能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。