供应 MINITEST720与730与740涂层测厚仪

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
技术数据表 
SIDSP探头


探头 
特性 F1.5，N0.7，FN1.5
 F2
 F5，N2.5，FN5
 F15
 
F
 N
 F
 F
 N
 F
 
测量范围
 0-1.5mm
 0-0.7mm
 0-2mm
 0-5mm
 0-2.5mm
 0-15mm
 
使用范围
 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用
 粗糙表面
 标准探头，使用广泛
 厚涂层
 
测量原理
 磁感应
 电涡流
 磁感应
 磁感应
 电涡流
 磁感应
 
信号处理
 探头内部32位信号处理（SIDSP）
 
精确度
 ±（1μm+0.75%读值）
 ±（1.5μm+0.75%读值）
 ±（5μm+0.75%读值）
 
重复性
 ±（0.5μm+0.5%读值）
 ±（0.8μm+0.5%读值）
 ±（2.5μm+0.5%读值）
 
低端分辨率
 0.05μm
 0.1μm
 1μm
 
**小曲率半径（凸）
 1.0mm
 1.5mm
 5mm
 
**小曲率半径（凹，外置探头）
 7.5mm
 10mm
 25mm
 
**小曲率半径（凹，内置探头）
 30mm
 30mm
 30mm
 
**小测量面积
 Φ5mm
 Φ10mm
 Φ25mm
 
**小基体厚度
 0.3mm
 40μm
 0.5mm
 0.5mm
 40μm
 1mm
 
连续模式下测量速度
 每秒20个读数
 
单值模式下**大测量速度
 每分钟70个读数