供应 数显薄膜测厚仪

BMH-J3  数显薄膜测厚仪
仪器名称: 数显薄膜测厚仪,薄膜测厚仪,数显测厚仪,测厚仪,厚度仪,薄膜厚度测定仪,厚度测定仪,数字厚度仪,厚度测试仪,厚度试验仪
产品用途：数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
技术指标： 
1.测量范围：（0-25）mm
2.分辨率：0.001mm 
3.电源：氧化银电池SR44       
4.工作温度：0℃～+40℃        
5.储运温度：-20～+70℃
6.相对湿度：≤80%